Direkt zum Inhalt

Nam, Shinjae ; Weymouth, Alfred J. ; Giessibl, Franz J.

Lateral Force Microscopy to study in-plane interactions next to adsorbed molecules

Artikel

Nam, Shinjae, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2025) Lateral Force Microscopy to study in-plane interactions next to adsorbed molecules. Wiley analytical science magazine.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftWiley analytical science magazine
VerlagWiley
Datum4 Februar 2025
Veröffentlichungsdatum11 Feb 2025 07:28
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Stichwörter / KeywordsLateral Force Microscopy, Atomic Force Microscopy, Hydrogen atom imaging, in-plane molecular interactions, Friction measurement, Nanotechnology, Material Science
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 500 Naturwissenschaften
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID74910

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

nach oben