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Nam, Shinjae ; Weymouth, Alfred J. ; Giessibl, Franz J.

Lateral Force Microscopy to study in-plane interactions next to adsorbed molecules

Nam, Shinjae, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2025) Lateral Force Microscopy to study in-plane interactions next to adsorbed molecules. Wiley analytical science magazine.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 11 Feb 2025 07:28
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftWiley analytical science magazine
Verlag:Wiley
Datum4 Februar 2025
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Stichwörter / KeywordsLateral Force Microscopy, Atomic Force Microscopy, Hydrogen atom imaging, in-plane molecular interactions, Friction measurement, Nanotechnology, Material Science
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 500 Naturwissenschaften
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID74910

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