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Pürckhauer, Korbinian, Maier, Simon, Merkel, Anja, Kirpal, Dominik und Giessibl, Franz J. 
(2020)
Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions.
Review of Scientific Instruments 91 (8), 083701.
Volltext nicht vorhanden.
(2020)
Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions.
Review of Scientific Instruments 91 (8), 083701.
Volltext nicht vorhanden.