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Publikationen von Albert, P.
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2018
Schaffus, T., Albert, P., Breuer, W., Debie, D., Graml, M., Hollerith, C., Kroninger, F., Mack, W., Pfaff, H., Schaffus, M. und Walter, J.
(2018)
Influence of sample preparation on intrinsic stresses inside a model Chip - First results of partial decapsulation.
Microelectronics Reliability 88-90, S. 299-303.
Volltext nicht vorhanden.
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