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Aufbau eines Rasterkraftmikroskops für makroskopische Bereiche und dessen Anwendung bei der Untersuchung zur Beweglichkeit dünner adsorbierter Polymerschichten

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-opus-5509

Hofmann, Richard (2005) Aufbau eines Rasterkraftmikroskops für makroskopische Bereiche und dessen Anwendung bei der Untersuchung zur Beweglichkeit dünner adsorbierter Polymerschichten. Dissertation, Universität Regensburg.

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Zusammenfassung (Deutsch)

In Teil I dieser Arbeit ist es gelungen, ein AFM zu entwickeln, das in der Lage ist, hochauflösende Oberflächenuntersuchungen auf harten Oberflächen und Polymeren durchzuführen. Durch die Gestaltung des AFMs in Form einer Brücke können auch sehr große Proben oder mehrere Proben ohne zwischenzeitlichen Zugriff auf die Apparatur untersucht werden. Dazu kommt ein Mikropositioniertisch zum Einsatz, ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)

In part I of this work the setup of a high resolution AFM for performing scans on hard surfaces and polymers is presented. Very large sample pieces can be analysed without interference due to the AFM´s bridgework design. This is realised with a micro positioning table actuated by piezo motors so that a complete standstill of the sample during the scan procedure can be assured. In order to ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:12 September 2005
Begutachter (Erstgutachter):Dietmar (Prof. Dr.) Goeritz
Tag der Prüfung:20 Januar 2005
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Dietmar Göritz
Klassifikation:
NotationArt
82D60MSC
Stichwörter / Keywords:Polymerfilm , Polymerschmelze , Polymere , Kunststoffbeschichtung , Glasartige Polymere , Kraftmikroskopie , Rastersondenmikroskop , Rastersondenmikroskopie , Positionierung , Nanostruktur , Nanotechnologie , Nanopartikel , Nanometerbereich , Messschraube , Ortsreproduktion , Kettenbeweglichkeit , AFM , RFM , Ortsmessung , AFM , SFM , polymer , pMessschraubeolymer film , nanopositioning
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:27 Okt 2009 07:01
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 11:30
Dokumenten-ID:10336
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