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Rasterkraftmikroskopie als Methode zur Charakterisierung amphiphiler Strukturen

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-opus-1267
Schnell, Edith Regine
Date of publication of this fulltext: 16 Jan 2003 13:05


Abstract (German)

Im Rahmen der vorliegenden Dissertation wurde die Methode der Rasterkraftmikroskopie (AFM) am Institut für Physikalische und Theoretische Chemie, Lst. Prof. Dr. W. Kunz (Solution Chemistry), der Universität Regensburg etabliert. Hierzu wurde ein kommerzielles Rastersondenmikroskop ausgewählt, schwingungsisoliert und auf die speziellen Bedürfnisse der Messung empfindlicher Tensidadsorbate an ...

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Translation of the abstract (English)

This thesis describes the implementation of atomic force microscopy (AFM) at the institute of physical and theoretical chemistry, Prof. Dr. W. Kunz (solution chemistry), University of Regensburg, Germany. A commercial atomic force microscope was selected, decoupled from building vibrations, and adapted to special requirements for measuring delicate adsorbates at solid-liquid interfaces. The first ...

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