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Scanning a metallic tip close to a quantum point contact

Pioda, A., Brunner, D., Kicin, S., Ihn, Thomas, Sigrist, Martin, Fuhrer, A., Ensslin, Klaus, Reinwald, Matthias und Wegscheider, Werner (2006) Scanning a metallic tip close to a quantum point contact. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 32 (1-2), S. 167-170.

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Zusammenfassung

Low-temperature transport experiments on a quantum point contact under the influence of a scanning gate are reported. The scanning gate is the metallic tip of a scanning force microscope operating at a temperature of 300 mK. In particular, the influence of the scanning tip on conductance resonances observed in the gate-characteristics of the point contact is studied. The strongest conductance ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Mai 2006
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/j.physe.2005.12.124DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.20.Mc; 73.63.−bPACS
Stichwörter / Keywords:Scanning probe microscopy; Scanning-gate microscopy; Quantum point contact
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:25 Jan 2010 13:14
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:24
Dokumenten-ID:12190
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