Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography
Konferenz- oder Workshop-Beitrag
Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2000) Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography. In: 11th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics, 21.-25. Februar 2000, Mauterndorf, Österreich.Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt) |
| Datum | 2000 |
| Veröffentlichungsdatum | 02 Mrz 2010 12:56 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe |
| Dokumenten-ID | 13046 |
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