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Heinzel, Thomas ; Lüscher, Silvia ; Held, Ryan ; Fuhrer, Andreas ; Ensslin, Klaus ; Wegscheider, Werner ; Bichler, Max

Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography

Konferenz- oder Workshop-Beitrag

Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2000) Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography. In: 11th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics, 21.-25. Februar 2000, Mauterndorf, Österreich.


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartKonferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt)
Datum2000
Veröffentlichungsdatum02 Mrz 2010 12:56
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetUnbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstandenUnbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID13046

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