Heinzel, Thomas ; Lüscher, Silvia ; Held, Ryan ; Fuhrer, Andreas ; Ensslin, Klaus ; Wegscheider, Werner ; Bichler, Max

Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography

Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2000) Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography. In: 11th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics, 21.-25. Februar 2000, Mauterndorf, Österreich.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 02 Mrz 2010 12:56
Konferenz- oder Workshop-Beitrag

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
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Details

Dokumentenart	Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt)
Datum	2000
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden	Unbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID	13046

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