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Nonlinear optical probing of nanocrystalline orientation in epitaxial ferroelectric thin films

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-149549

Woltersdorf, Georg, Seifert, G, Graener, H, Pignolet, A und Hesse, D (2002) Nonlinear optical probing of nanocrystalline orientation in epitaxial ferroelectric thin films. Journal of Applied Physics 91 (1), S. 362-366.

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Zusammenfassung

Epitaxially grown ferroelectric BaBi4Ti4O15 thin films were studied by optical second-harmonic (SH) generation using a femtosecond titanium:sapphire laser at 800 nm wavelength. By varying both the incidence and the azimuthal angle and registering the second-harmonic intensity, a significant correlation was found between the azimuthal dependence of the measured SH signal and the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Januar 2002
Institutionen:Nicht ausgewählt
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1420764DOI
Klassifikation:
NotationArt
77.80.-ePACS
77.84.EkPACS
77.84.CgPACS
77.55.-gPACS
42.65.KyPACS
78.66.NkPACS
Stichwörter / Keywords:barium compounds, bismuth compounds, ferroelectric materials, ferroelectric thin films, optical harmonic generation, X-ray diffraction, electron microscopy
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:07 Jun 2010 08:32
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:26
Dokumenten-ID:14954
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