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Haug, Thomas ; Back, Christian ; Raabe, Jörg ; Heun, S. ; Locatelli, A.

Magnetic domain walls in T-shaped permalloy microstructures

Haug, Thomas, Back, Christian , Raabe, Jörg , Heun, S. und Locatelli, A. (2005) Magnetic domain walls in T-shaped permalloy microstructures. Applied Physics Letters 86, S. 152503.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:34
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.1924


Zusammenfassung

The magnetic domain wall width of T-shaped permalloy structures has been measured using a photoemission electron microscope and x-ray magnetic dichroism. The results are compared to micromagnetic simulations. The shape of the structures allows us to analyze 90 degrees Neel walls. We find a decrease in domain wall width with decreasing contact dimensions as expected by theory and in good agreement with our micromagnetic simulations. (C) 2005 American Institute of Physics.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
Verlag:AMER INST PHYSICS
Ort der Veröffentlichung:MELVILLE
Band:86
Seitenbereich:S. 152503
DatumApril 2005
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/1.1897059DOI
Stichwörter / KeywordsMAGNETORESISTANCE;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID1924

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