Ionization of impurities in semiconductors by intense FIR radiation
Ganichev, Sergey (2003) Ionization of impurities in semiconductors by intense FIR radiation. In: Svechnikov, Sergey V. und Valakh, Mikhail Y., (eds.) Selected Papers on Optics and Photonics: Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics. Proceedings of SPIE, 5024. SPIE, Bellingham, Washington, S. 12-23. ISBN 0819448257; 9780819448255.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:37
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Buchkapitel | ||||
| ISBN | 0819448257; 9780819448255 | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Proceedings of SPIE | ||||
| Buchtitel: | Selected Papers on Optics and Photonics: Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Verlag: | SPIE | ||||
| Ort der Veröffentlichung: | Bellingham, Washington | ||||
| Sonstige Reihe: | Proceedings of SPIE | ||||
| Band: | 5024 | ||||
| Seitenbereich: | S. 12-23 | ||||
| Datum | April 2003 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 2177 |
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