Frequency dependence of tunnel ionization of deep impurities in terahertz field
Ganichev, Sergey, Ziemann, E., Gleim, T., Yassievich, Irina und Prettl, Wilhelm (1997) Frequency dependence of tunnel ionization of deep impurities in terahertz field. In: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19), 21. - 25. Juli 1997, Aveiro, Porto, Portugal.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:39
Konferenz- oder Workshop-Beitrag
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt) |
| Seitenbereich: | S. 313 |
|---|---|
| Datum | 1997 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja |
| Dokumenten-ID | 2452 |
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