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Ganichev, Sergey ; Ziemann, E. ; Gleim, T. ; Yassievich, Irina ; Prettl, Wilhelm

Frequency dependence of tunnel ionization of deep impurities in terahertz field

Ganichev, Sergey, Ziemann, E., Gleim, T., Yassievich, Irina und Prettl, Wilhelm (1997) Frequency dependence of tunnel ionization of deep impurities in terahertz field. In: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19), 21. - 25. Juli 1997, Aveiro, Porto, Portugal.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:39
Konferenz- oder Workshop-Beitrag


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartKonferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt)
Seitenbereich:S. 313
Datum1997
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID2452

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