Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (2001) Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations. Annalen der Physik 10 (11-12), S. 887-910.
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Zusammenfassung
Atomic force microscopy (AFM) is a mechanical profiling technique that allows to image surfaces with atomic resolution. Recent progress in reducing the noise of this technique has led to a resolution level where previously undetectable symmetries of the images of single atoms are observed. These symmetries are related to the nature of the interatomic forces. The Si(111)-(7 × 7) surface is studied ...
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| Dokumentenart: | Artikel | ||||||||||
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| Datum: | 10 Oktober 2001 | ||||||||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||||||
| Identifikationsnummer: |
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| Klassifikation: |
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| Stichwörter / Keywords: | atomic force microscope; atomic orbitals | ||||||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||||||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||||||||
| Dokumenten-ID: | 25341 |
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