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Haug, Thomas ; Vogl, Anton ; Zweck, Josef ; Back, Christian

In situ measurements of magnetoresistive effects in ferromagnetic microstructures by Lorentz microscopy

Haug, Thomas, Vogl, Anton, Zweck, Josef und Back, Christian (2006) In situ measurements of magnetoresistive effects in ferromagnetic microstructures by Lorentz microscopy. Applied Physics Letters 88, 082506.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 26 Okt 2011 07:14
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
Verlag:AMER INST PHYSICS
Ort der Veröffentlichung:MELVILLE
Band:88
Seitenbereich:082506
Datum2006
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/1.2179367DOI
Stichwörter / KeywordsBALLISTIC MAGNETORESISTANCE; ELECTRON-MICROSCOPY;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID2551

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