Giovanelli, L. ; Panaccione, G. ; Rossi, G. ; Fabrizioli, M. ; Tian, C. ; Gastelois, P. ; Fujii, J. ; Back, Christian

Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6)

Giovanelli, L., Panaccione, G., Rossi, G., Fabrizioli, M., Tian, C., Gastelois, P., Fujii, J. und Back, Christian (2005) Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6). Applied Physics Letters 87, 042506.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:40
Artikel

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Browse Publikationen

Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Applied Physics Letters
Verlag:	American Institute of Physics
Band:	87
Seitenbereich:	042506
Datum	2005
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	2552

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

Weitere Literatur (mittels CORE)

nach oben