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Giovanelli, L. ; Panaccione, G. ; Rossi, G. ; Fabrizioli, M. ; Tian, C. ; Gastelois, P. ; Fujii, J. ; Back, Christian

Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6)

Giovanelli, L., Panaccione, G., Rossi, G., Fabrizioli, M., Tian, C., Gastelois, P., Fujii, J. und Back, Christian (2005) Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6). Applied Physics Letters 87, 042506.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:40
Artikel


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
Verlag:American Institute of Physics
Band:87
Seitenbereich:042506
Datum2005
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID2552

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