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Scanning Probe Microscopy of Atoms and Molecules on Insulating Films: From Imaging to Molecular Manipulation

Meyer, Gerhard, Gross, Leo, Mohn, Fabian und Repp, Jascha (2012) Scanning Probe Microscopy of Atoms and Molecules on Insulating Films: From Imaging to Molecular Manipulation. Chimia 66 (1/2), S. 10-15.

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Zusammenfassung

Scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) of single atoms and molecules on ultrathin insulating films have led to a wealth of novel observations and insights. Based on the reduced electronic coupling to the metallic substrate, these techniques allow the charge state of individual atoms to be controlled, orbitals of individual molecules to be imaged and metal-molecule ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:1 Februar 2012
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Jascha Repp
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.2533/chimia.2012.10DOI
Stichwörter / Keywords:ATOMIC FORCE MICROSCOPY; INSULATING FILM; MOLECULAR ELECTRONICS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SINGLE MOLECULE
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:24 Sep 2012 10:23
Zuletzt geändert:06 Sep 2015 18:44
Dokumenten-ID:25936
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