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Correlation between emission intensity of self-assembled germanium islands and quality factor of silicon photonic crystal nanocavities

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-277733

Hauke, N., Lichtmannecker, S., Zabel, T., Laussy, F. P., Laucht, A., Kaniber, M., Bougeard, Dominique, Abstreiter, Gerhard, Finley, J. J. und Arakawa, Y. (2011) Correlation between emission intensity of self-assembled germanium islands and quality factor of silicon photonic crystal nanocavities. Phys. Rev. B 84, 085620.

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Zusammenfassung

We present a comparative microphotoluminescence study of the emission intensity of self-assembled germanium islands coupled to the resonator mode of two-dimensional silicon photonic crystal defect nanocavities. The cavity-mode intensity is investigated for L3 and hexapole cavities with a range of different mode quality factors. For each type of cavity, many nominally identical samples are probed ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Huber > Arbeitsgruppe Dominique Bougeard
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.84.085320DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Zum Teil
Eingebracht am:04 Mrz 2013 13:56
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:36
Dokumenten-ID:27773
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