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Comparison of the magnetic properties of GeMn thin films through Mn L-edge x-ray absorption

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-277884

Ahlers, S., Stone, P. R., Sircar, N., Arenholz, E., Dubon, O. D. und Bougeard, Dominique (2009) Comparison of the magnetic properties of GeMn thin films through Mn L-edge x-ray absorption. Appl. Phys. Lett. 95, S. 151911.

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Zusammenfassung

X-ray absorption spectroscopy of epitaxial GeMn thin films reveals an experimentally indistinguishable electronic configuration of Mn atoms incorporated in Ge(1-x)Mn(x) nanoclusters and in precipitates of the intermetallic compound Mn(5)Ge(3), respectively. However, the average magnetic response of thin films containing Ge(1-x)Mn(x) nanoclusters is lower than the response of films containing ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2009
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Huber > Arbeitsgruppe Dominique Bougeard
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.3232245DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Nein
Eingebracht am:05 Mrz 2013 07:30
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:36
Dokumenten-ID:27788
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