Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium
Bougeard, Dominique (2006) Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium. Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie, 74. Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München, Garching. ISBN 3-932749-74-X.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Mrz 2013 14:54
Buch
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Buch |
| ISBN | 3-932749-74-X |
| Verlag: | Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München |
|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | Garching |
| Sonstige Reihe: | Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie |
| Band: | 74 |
| Seitenanzahl: | XII, 154 S. |
| Datum | 2006 |
| Zusätzliche Informationen (Öffentlich) | Zugl.: München, Techn. Univ., Diss, 2005 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Huber > Arbeitsgruppe Dominique Bougeard |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden | Nein |
| Dokumenten-ID | 27801 |
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