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Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium
Bougeard, Dominique (2006) Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium. Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie, 74. Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München, Garching. ISBN 3-932749-74-X.Date of publication of this fulltext: 05 Mar 2013 14:54
Book
Involved Institutions
Details
| Item type | Book |
| ISBN | 3-932749-74-X |
| Publisher: | Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München |
|---|---|
| Place of Publication: | Garching |
| Other Series: | Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie |
| Volume: | 74 |
| Number of Pages: | XII, 154 S. |
| Date | 2006 |
| Additional Information (public) | Zugl.: München, Techn. Univ., Diss, 2005 |
| Institutions | Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Huber > Group Dominique Bougeard |
| Dewey Decimal Classification | 500 Science > 530 Physics |
| Status | Published |
| Refereed | Unknown |
| Created at the University of Regensburg | No |
| Item ID | 27801 |
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