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Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala: Van-der-Waals Wechselwirkung in molekularen Systemen

Neu, Mathias (2014) Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala: Van-der-Waals Wechselwirkung in molekularen Systemen. PhD, Universität Regensburg.

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Date of publication of this fulltext: 13 May 2014 17:17

Abstract (German)

Im Rahmen dieser Arbeit wurde ein Tieftemperatur qPlus-Rasterkraftmikroskop aufgebaut und erfolgreich in Betrieb genommen. Sämtliche Details zum Aufbau der Anlage wurden dokumentiert und die Lösungen aufgetretener Probleme erläutert. Verschiedene Tests wurden durchgeführt, um die Leistung der Anlage zu charakterisieren. Diese zeigten auf, dass die Performance der Anlage zum Zeitpunkt der ...

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Translation of the abstract (English)

In this work, a low temperature qPlus atomic force microscope (AFM) has been built up and successfully put into operation. Key details of the build-up are documented here, with solutions to particular problems discussed. Several tests were performed to characterize the performance of the system, which showed that the performance was significantly better than commercially available machines at ...

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Item type:Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Date:13 May 2014
Referee:Prof. Dr. Jascha Repp
Date of exam:7 November 2013
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Giessibl > Group Jascha Repp
Keywords:Van der Waals, Rasterkraftmikroskopie, atomic force microscopy, atomare Skala, pentacene, xenon, kelvin probe, atomic scale
Dewey Decimal Classification:500 Science > 530 Physics
Status:Published
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Item ID:29007
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