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Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala: Van-der-Waals Wechselwirkung in molekularen Systemen

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-290070

Neu, Mathias (2014) Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala: Van-der-Waals Wechselwirkung in molekularen Systemen. Dissertation, Universität Regensburg.

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Zusammenfassung (Deutsch)

Im Rahmen dieser Arbeit wurde ein Tieftemperatur qPlus-Rasterkraftmikroskop aufgebaut und erfolgreich in Betrieb genommen. Sämtliche Details zum Aufbau der Anlage wurden dokumentiert und die Lösungen aufgetretener Probleme erläutert. Verschiedene Tests wurden durchgeführt, um die Leistung der Anlage zu charakterisieren. Diese zeigten auf, dass die Performance der Anlage zum Zeitpunkt der ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)

In this work, a low temperature qPlus atomic force microscope (AFM) has been built up and successfully put into operation. Key details of the build-up are documented here, with solutions to particular problems discussed. Several tests were performed to characterize the performance of the system, which showed that the performance was significantly better than commercially available machines at ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:13 Mai 2014
Begutachter (Erstgutachter):Prof. Dr. Jascha Repp
Tag der Prüfung:7 November 2013
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Jascha Repp
Stichwörter / Keywords:Van der Waals, Rasterkraftmikroskopie, atomic force microscopy, atomare Skala, pentacene, xenon, kelvin probe, atomic scale
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:13 Mai 2014 17:17
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:37
Dokumenten-ID:29007
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