Penzkofer, Alfons ; Drotleff, E. ; Holzer, W.

Optical Constants Measurements of Single-Layer Thin Films on TransparentSubstrates,

Penzkofer, Alfons, Drotleff, E. und Holzer, W. (1998) Optical Constants Measurements of Single-Layer Thin Films on TransparentSubstrates,. Optics Communications 158, S. 221-230.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:45
Artikel

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Alfons Penzkofer
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Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Optics Communications
Band:	158
Seitenbereich:	S. 221-230
Datum	1998
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Alfons Penzkofer
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	3892

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