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Optical Constants Measurements of Single-Layer Thin Films on TransparentSubstrates,

Penzkofer, Alfons, Drotleff, E. und Holzer, W. (1998) Optical Constants Measurements of Single-Layer Thin Films on TransparentSubstrates,. Optics Communications 158, S. 221-230.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:1998
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Alfons Penzkofer
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:17 Jun 2008 13:16
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:19
Dokumenten-ID:3892
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