Quantifying the critical thickness of electron hybridization in spintronics materials
Pincelli, T., Lollobrigida, V., Borgatti, F., Regoutz, A.
, Gobaut, B.
, Schlueter, C., Lee, T. -L., Payne, D. J., Oura, M., Tamasaku, K., Petrov, A. Y., Graziosi, P.
, Granozio, F. Miletto, Cavallini, M., Vinai, G.
, Ciprian, R.
, Back, C. H.
, Rossi, G., Taguchi, M., Daimon, H., van der Laan, G. und Panaccione, G.
(2017)
Quantifying the critical thickness of electron hybridization in spintronics materials.
Nature Communications 8, S. 16051.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 20 Mrz 2019 13:04
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Nature Communications | ||||
| Verlag: | Nature | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | LONDON | ||||
| Band: | 8 | ||||
| Seitenbereich: | S. 16051 | ||||
| Datum | 2017 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | METAL-INSULATOR-TRANSITION; LEVEL LINE-SHAPES; PHOTOEMISSION-SPECTROSCOPY; SPECTRA; TEMPERATURE; GA1-XMNXAS; MN; SEMICONDUCTORS; PHOTOELECTRON; PHASE; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 39362 |
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