Transient surface modifications during singular heating events at diode laser facets
Hempel, Martin, Tomm, Jens W., Bachmann, Alexander, Lauer, Christian, Furitsch, Michael, Strauß, Uwe und Elsaesser, Thomas (2016) Transient surface modifications during singular heating events at diode laser facets. Semiconductor Science and Technology 31 (5), 055007.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 17 Mrz 2020 11:26
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Semiconductor Science and Technology | ||||
| Band: | 31 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 5 | ||||
| Seitenbereich: | 055007 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42241 |
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