Transient surface modifications during singular heating events at diode laser facets
Artikel
Hempel, Martin, Tomm, Jens W., Bachmann, Alexander, Lauer, Christian, Furitsch, Michael, Strauß, Uwe und Elsaesser, Thomas (2016) Transient surface modifications during singular heating events at diode laser facets. Semiconductor Science and Technology 31 (5), 055007.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Semiconductor Science and Technology | ||||
| Band | 31 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 5 | ||||
| Seitenbereich | 055007 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 17 Mrz 2020 11:26 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42241 |
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