Microscale material characterization and viscoelastic modeling of organic dielectic thin film in eWLB package
Artikel
Unterhofer, Katrin, Preu, Harald, Walter, Jürgen und Döpke, Holger (2016) Microscale material characterization and viscoelastic modeling of organic dielectic thin film in eWLB package. Microsystem Technologies 22 (4), S. 801-810.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Microsystem Technologies | ||||
| Band | 22 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 4 | ||||
| Seitenbereich | S. 801-810 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 17 Mrz 2020 11:27 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42354 |
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