Role of defects in the thermal droop of InGaN-based light emitting diodes
Artikel
De Santi, C., Meneghini, M., La Grassa, M., Galler, B., Zeisel, R., Goano, M., Dominici, S., Mandurrino, M., Bertazzi, F., Robidas, D., Meneghesso, G. und Zanoni, E. (2016) Role of defects in the thermal droop of InGaN-based light emitting diodes. Journal of Applied Physics 119 (9), 094501.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Applied Physics | ||||
| Band | 119 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 9 | ||||
| Seitenbereich | 094501 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 17 Mrz 2020 11:28 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42396 |
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