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Nippert, Felix ; Karpov, Sergey Yu. ; Callsen, Gordon ; Galler, Bastian ; Kure, Thomas ; Nenstiel, Christian ; Wagner, Markus R. ; Straßburg, Martin ; Lugauer, Hans-Jürgen ; Hoffmann, Axel

Temperature-dependent recombination coefficients in InGaN light-emitting diodes: Hole localization, Auger processes, and the green gap

Artikel

Nippert, Felix, Karpov, Sergey Yu., Callsen, Gordon, Galler, Bastian, Kure, Thomas, Nenstiel, Christian, Wagner, Markus R., Straßburg, Martin, Lugauer, Hans-Jürgen und Hoffmann, Axel (2016) Temperature-dependent recombination coefficients in InGaN light-emitting diodes: Hole localization, Auger processes, and the green gap. Applied Physics Letters 109 (16), S. 161103.



Beteiligte Einrichtungen


    Details

    DokumentenartArtikel
    Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
    Band109
    Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels16
    SeitenbereichS. 161103
    Datum2016
    Veröffentlichungsdatum17 Mrz 2020 12:07
    InstitutionenNicht ausgewählt
    Identifikationsnummer
    WertTyp
    10.1063/1.4965298DOI
    Dewey-Dezimal-KlassifikationNicht ausgewählt
    StatusVeröffentlicht
    BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
    An der Universität Regensburg entstandenJa
    Dokumenten-ID42908

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