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A cost-efficient approach for simultaneous scanning electrochemical microscopy and scanning ion conductance microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-447797
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.44779
Matysik, Frank-Michael ; Wert, Stefan ; Baluchová, Simona ; Schwarzová‑Pecková, Karolina ; Sedláková, Silvia ; Taylor, Andrew
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Lizenz: Creative Commons Namensnennung 4.0 International
PDF - Veröffentlichte Version
(1MB)
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 09 Feb 2021 15:26

Diese Publikation ist Teil des DEAL-Vertrags mit Springer.


Zusammenfassung

A novel and cost-efficient probe fabrication method yielding probes for performing simultaneous scanning electrochemical microscopy (SECM) and scanning ion conductance microscopy (SICM) is presented. Coupling both techniques allows distinguishing topographical and electrochemical activity information obtained by SECM. Probes were prepared by deposition of photoresist onto platinum-coated, pulled ...

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