Ultraviolet laser ablation as technique for defect repair of GaN-based light-emitting diodes
Passow, Thorsten, Kunzer, Michael, Pfeuffer, Alexander, Binder, Michael und Wagner, Joachim (2018) Ultraviolet laser ablation as technique for defect repair of GaN-based light-emitting diodes. Applied Physics A 124 (3).Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 28 Jul 2021 17:23
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Applied Physics A | ||||
| Band: | 124 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 3 | ||||
| Datum | 2018 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 47424 |
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