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Hamer, Okka W. ; Volk, Markus ; Zorger, Niels ; Feuerbach, Stefan ; Strotzer, Michael

Amorphous Silicon, Flat-Panel, X-Ray Detector Versus Storage Phosphor-Based Computed Radiography: Contrast-Detail Phantom Study at Different Tube Voltages and Detector Entrance Doses

Hamer, Okka W. , Volk, Markus, Zorger, Niels, Feuerbach, Stefan und Strotzer, Michael (2003) Amorphous Silicon, Flat-Panel, X-Ray Detector Versus Storage Phosphor-Based Computed Radiography: Contrast-Detail Phantom Study at Different Tube Voltages and Detector Entrance Doses. Investigative Radiology 38 (4), S. 212-220.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:29
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftInvestigative Radiology
Verlag:LIPPINCOTT WILLIAMS & WILKINS
Ort der Veröffentlichung:PHILADELPHIA
Band:38
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:4
Seitenbereich:S. 212-220
Datum2003
InstitutionenMedizin > Lehrstuhl für Röntgendiagnostik
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1097/00004424-200304000-00005DOI
Stichwörter / KeywordsSCREEN-FILM RADIOGRAPHY; DIGITAL CHEST RADIOGRAPHY; LARGE-AREA; IMAGE QUALITY; TECHNOLOGY; SYSTEM; DETECTABILITY; REDUCTION; LESIONS; PERFORMANCE; flat panel detector; radiography; storage phosphor; radiography; comparative studies; contrast-detail study
Dewey-Dezimal-Klassifikation600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 610 Medizin
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID72345

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