Derivation of pair distribution functions for interface interdiffusion analysis for multilayered thin films using high-energy electron diffraction
Brunner, W, Attenberger, W, Hoffmann, H und Zweck, J (2001) Derivation of pair distribution functions for interface interdiffusion analysis for multilayered thin films using high-energy electron diffraction. Journal of Physics: Condensed Matter 13 (13), S. 2865-2873.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:53
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Physics: Condensed Matter | ||||
| Verlag: | IOP PUBLISHING LTD | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | BRISTOL | ||||
| Band: | 13 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 13 | ||||
| Seitenbereich: | S. 2865-2873 | ||||
| Datum | 2001 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | SCATTERING; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 73711 |
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