Scanning Hall Probe Microscopy with Shear Force Distance Control
Schweinböck, T., Weiss, Dieter, Lipinski, M. und Eberl, K. (2000) Scanning Hall Probe Microscopy with Shear Force Distance Control. Journal of Applied Physics 87, S. 6496.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:57
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Details
| Dokumentenart | Artikel |
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Applied Physics |
| Band: | 87 |
|---|---|
| Seitenbereich: | S. 6496 |
| Datum | 2000 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja |
| Dokumenten-ID | 7909 |
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