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Fabricating tunable semiconductor devices with an atomic force microscope

Held, R. und Lüscher, S. und Heinzel, Thomas und Ensslin, K. und Wegscheider, Werner (1999) Fabricating tunable semiconductor devices with an atomic force microscope. Applied Physics Letters 75 (8), S. 1134-1136.

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Zusammenfassung

We fabricated quantum wires of different geometries in Ga[Al]As heterostructures by local oxidation of the semiconductor surface with an atomic force microscope. By magnetotransport measurements at low temperatures on these wires the electronic width is determined and compared to the geometrical width. An extremely small lateral depletion length of the order of 15 nm and a high specularity of the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:23 August 1999
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.124620DOI
Verwandte URLs:
URLURL Typ
http://link.aip.org/link/?APPLAB/75/1134/1Verlag
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:30 Nov 2009 13:06
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:08
Dokumenten-ID:11004
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