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Kelvin probe spectroscopy of a two-dimensional electron gas below 300 mK

Vancura, T. und Kicin, S. und Ihn, Thomas und Ensslin, Klaus und Bichler, Max und Wegscheider, Werner (2003) Kelvin probe spectroscopy of a two-dimensional electron gas below 300 mK. Applied Physics Letters 83 (13), S. 2602-2604.

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Zusammenfassung

A scanning force microscope with a base temperature below 300 mK is used for measuring the local electron density of a two-dimensional electron gas embedded in a Ga[Al]As heterostructure. At different separations between atomic force microscope tip and sample, a dc voltage is applied between the tip and the electron gas while simultaneously recording the frequency shift of the oscillating tip. ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:29 September 2003
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1614836DOI
Verwandte URLs:
URLURL Typ
http://link.aip.org/link/?APPLAB/83/2602/1Verlag
Klassifikation:
NotationArt
73.63.-bPACS
Stichwörter / Keywords:gallium arsenide, aluminium compounds, III-V semiconductors, two-dimensional electron gas, atomic force microscopy, electron density, semiconductor heterojunctions
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:15 Dez 2009 08:58
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:18
Dokumenten-ID:11480
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