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Smooth-disorder Effects in Ballistic Microstructures

Richter, Klaus und Ullmo, Denis und Jalabert, Rodolfo A. (1996) Smooth-disorder Effects in Ballistic Microstructures. Physical Review B 54 (8), R5219-R5222.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/abstract/PRB/v54/pR5219


Zusammenfassung

We analyze the effect of weak residual disorder in microstructures defined on high-mobility heterojunctions, where the classical electron motion is ballistic. We parameterize the disorder by its correlation length {\it xi} and the elastic mean free path {\it l}, which can be estimated from microscopic models. For the experimentally relevant case in which {\it xi} is not negligible with ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:August 1996
Institutionen:Physik > Institut für Theoretische Physik > Lehrstuhl Professor Richter > Arbeitsgruppe Klaus Richter
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.54.R5219DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:20 Mrz 2007
Zuletzt geändert:08 Apr 2016 09:25
Dokumenten-ID:1435
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