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2002

Sammynaiken, R., Naftel, S. J, Sham, T. K., Cheah, K. W., Averboukh, B., Huber, Rupert, Shen, Y. R., Qin, G. G., Ma, Z. C. und Zong, W. H. (2002) Structure and electronic properties of SiO₂/Si multilayer superlattices: Si K edge and L₃,₂ edge x-ray absorption fine structure study. Journal of Applied Physics 92 (6), S. 3000-3006. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

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