Scanning a metallic tip close to a quantum point contact

DOI zum Zitieren dieses Dokuments:: 10.5283/epub.12190

Pioda, A. ; Brunner, D. ; Kicin, S. ; Ihn, Thomas ; Sigrist, Martin ; Fuhrer, A. ; Ensslin, Klaus ; Reinwald, Matthias ; Wegscheider, Werner

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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 25 Jan 2010 13:14

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Zusammenfassung

Low-temperature transport experiments on a quantum point contact under the influence of a scanning gate are reported. The scanning gate is the metallic tip of a scanning force microscope operating at a temperature of 300 mK. In particular, the influence of the scanning tip on conductance resonances observed in the gate-characteristics of the point contact is studied. The strongest conductance ...