Wegscheider, Werner ; Eberl, Karl ; Abstreiter, Gerhard ; Cerva, Hans ; Oppolzer, H.

High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Abstreiter, Gerhard, Cerva, Hans und Oppolzer, H. (1991) High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates. In: Cullis, Anthony G., (ed.) Microscopy of semiconducting materials 1991. Conference series, 117. Institute of Physics, Bristol, S. 21. ISBN 0-85498-406-2.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 08 Feb 2010 13:49
Buchkapitel

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Browse Publikationen

Details

Dokumentenart	Buchkapitel
ISBN	0-85498-406-2
Buchtitel:	Microscopy of semiconducting materials 1991
Verlag:	Institute of Physics
Ort der Veröffentlichung:	Bristol
Sonstige Reihe:	Conference series
Band:	117
Seitenbereich:	S. 21
Datum	1991
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden	Unbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID	12764

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

Weitere Literatur (mittels CORE)

nach oben