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Wegscheider, Werner ; Eberl, Karl ; Abstreiter, Gerhard ; Cerva, Hans ; Oppolzer, Helmut

New relaxation mechanism in short period strained-layer superlattices

Buchkapitel

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Abstreiter, Gerhard, Cerva, Hans und Oppolzer, Helmut (1990) New relaxation mechanism in short period strained-layer superlattices. In: Sinclair, Robert, (ed.) High resolution electron microscopy of defects in materials: symposium held April 16.-18., 1990, San Francisco, California, USA. Materials Research Society symposium proceedings, 183. Materials Research Society, Pittsburgh, Pennsylvania, USA, S. 155. ISBN 1-558-99072-0.


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Details

DokumentenartBuchkapitel
ISBN1-558-99072-0
Buchtitel:High resolution electron microscopy of defects in materials: symposium held April 16.-18., 1990, San Francisco, California, USA
VerlagMaterials Research Society
Ort der VeröffentlichungPittsburgh, Pennsylvania, USA
Sonstige Reihe:Materials Research Society symposium proceedings
Band183
SeitenbereichS. 155
Datum1990
Veröffentlichungsdatum02 Mrz 2010 13:34
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetUnbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstandenUnbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID13196

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