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Dou, K. P. ; Fan, W. ; Niehaus, Thomas A. ; Frauenheim, T. ; Wang, C. L. ; Zhang, X. H. ; Zhang, R. Q.

Electron Transport Suppression from Tip−π State Interaction on Si(100)-2 × 1 Surfaces

Dou, K. P., Fan, W., Niehaus, Thomas A. , Frauenheim, T. , Wang, C. L., Zhang, X. H. und Zhang, R. Q. (2011) Electron Transport Suppression from Tip−π State Interaction on Si(100)-2 × 1 Surfaces. J. Chem. Theory Comput. 7 (3), S. 707-712.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 04 Mrz 2011 06:48
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftJ. Chem. Theory Comput.
Verlag:AMER CHEMICAL SOC
Ort der Veröffentlichung:WASHINGTON
Band:7
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:3
Seitenbereich:S. 707-712
Datum2011
InstitutionenPhysik > Institut für Theoretische Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Thomas Niehaus
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1021/ct1004998DOI
Stichwörter / KeywordsSCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY; CONDUCTANCE;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenZum Teil
Dokumenten-ID19990

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