Böcker, M., Anczykowski, B., Wegener, Joachim und Schäffer, T. (2007) Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control. Nanotechnology 18, S. 145505.
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Dokumentenart: | Artikel |
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Datum: | 2007 |
Institutionen: | Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener) |
Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie |
Status: | Veröffentlicht |
Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet |
An der Universität Regensburg entstanden: | Nein |
Eingebracht am: | 24 Mrz 2011 07:26 |
Zuletzt geändert: | 08 Mrz 2017 08:29 |
Dokumenten-ID: | 20231 |
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