Böcker, M. ; Anczykowski, B. ; Wegener, Joachim ; Schäffer, T.

Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control.

Böcker, M., Anczykowski, B., Wegener, Joachim und Schäffer, T. (2007) Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control. Nanotechnology 18, S. 145505.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 24 Mrz 2011 07:26
Artikel

Beteiligte Einrichtungen

Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
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Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Nanotechnology
Verlag:	IOP Publ. (= Institute of Physics)
Band:	18
Seitenbereich:	S. 145505
Datum	2007
Institutionen	Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Nein
Dokumenten-ID	20231

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