Böcker, M., Anczykowski, B., Wegener, Joachim und Schäffer, T. (2007) Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control. Nanotechnology 18, S. 145505.
Im Publikationsserver gibt es leider keinen Volltext zu diesem Eintrag.
Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Artikel |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| Institutionen: | Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener) |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie |
| Status: | Veröffentlicht |
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden: | Nein |
| Eingebracht am: | 24 Mär 2011 07:26 |
| Zuletzt geändert: | 25 Mai 2018 10:14 |
| Dokumenten-ID: | 20231 |
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
