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Bergner, S. ; Palatzky, P. ; Wegener, Joachim ; Matysik, Frank-Michael

High-resolution imaging of nanostructured Si / SiO2 substrates and cell monolayers using scanning electrochemical microscopy

Bergner, S., Palatzky, P., Wegener, Joachim und Matysik, Frank-Michael (2011) High-resolution imaging of nanostructured Si / SiO2 substrates and cell monolayers using scanning electrochemical microscopy. Electroanalysis 23, S. 196-200.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 18 Apr 2011 12:30
Artikel


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftElectroanalysis
Band:23
Seitenbereich:S. 196-200
Datum2011
InstitutionenChemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Instrumentelle Analytik (Prof. Frank-Michael Matysik)
Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID20560

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