Lechner, Lorenz ; Gaaß, Markus ; Paila, Antti ; Sillanpää, Mika A. ; Strunk, Christoph ; Hakonen, Pertti J.

Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment

Artikel

Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph und Hakonen, Pertti J. (2011) Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment. Nanotechnology 22 (12), S. 125203.

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
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Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Nanotechnology
Verlag	Institute of Physics
Band	22
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels	12
Seitenbereich	S. 125203
Datum	2011
Veröffentlichungsdatum	08 Aug 2011 10:53
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	21649

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