Lechner, Lorenz ; Gaaß, Markus ; Paila, Antti ; Sillanpää, Mika A. ; Strunk, Christoph ; Hakonen, Pertti J.

Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment

Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph und Hakonen, Pertti J. (2011) Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment. Nanotechnology 22 (12), S. 125203.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 08 Aug 2011 10:53
Artikel

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
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Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Nanotechnology
Verlag:	Institute of Physics
Band:	22
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:	12
Seitenbereich:	S. 125203
Datum	2011
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	21649

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