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Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment

Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph und Hakonen, Pertti J. (2011) Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment. Nanotechnology 22 (12), S. 125203.

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Zusammenfassung

A scheme for measuring small intrinsic critical currents I c in nanoscale devices is described. Changes in Josephson inductance L J are converted to frequency variations that are recorded via microwave reflection measurements at 700-800 MHz. The critical current is determined from the frequency shift of the reflection magnitude at zero phase bias assuming a sinusoidal current-phase relation. The ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:08 Aug 2011 10:53
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:30
Dokumenten-ID:21649
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