Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters

Dokumentenart:	Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Open Access Art:	Primärpublikation
Ort der Veröffentlichung:	Regensburg, Germany
Seitenanzahl:	147
Datum:	6 Dezember 2011
Begutachter (Erstgutachter):	Prof. Dr. Elmar W. Lang und Prof. Dr. Christoph Strunk
Tag der Prüfung:	7 November 2011
Institutionen:	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk Biologie und Vorklinische Medizin > Institut für Biophysik und physikalische Biochemie > Prof. Dr. Elmar Lang
Themenverbund:	Nicht ausgewählt
Stichwörter / Keywords:	Carbon nanotubes Electron diffraction Image Processing
Dewey-Dezimal-Klassifikation:	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:	Veröffentlicht
Begutachtet:	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:	Ja
Dokumenten-ID:	22789

Zusammenfassung (Englisch)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a ...

Zusammenfassung (Englisch)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a simulation program was written, which produces diffraction patterns, that are similar to real ones, i.e. they contain noise, a beamstopper and an undiffracted electron beam.

Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des ...

Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des Algorithmus bewerten zu können, wurde ein Simulationsprogramm geschrieben, das Beugungsbilder generiert, die experimentell aufgenommenen ähnlich sind, d.h. die Rauschen, einen Abdeckstab und einen ungebeugten Elektronenstrahl enthalten.

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