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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-252459
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.25245
Zusammenfassung (Englisch)
In this thesis work, a combination of low-temperature scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) was used to study single atoms and molecules on thin insulating films. We show that noncontact-AFM can yield important additional information for these systems, which had previously been studied only with STM. In particular, we demonstrate that the charge states of single ...
Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)
In dieser Arbeit wurde eine Kombination von Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskopie (STM) und -Rasterkraftmikroskopie (AFM) verwendet, um einzelne Atome und Moleküle auf dünnen Isolatorfilmen zu untersuchen. Wir zeigen, dass sich mit AFM wichtige zusätzliche Erkenntnisse gewinnen lassen über die Eigenschaften dieser Systeme, die bisher nur mit STM alleine untersucht worden waren. Wir zeigen ...