Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2
Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland, eds. (2009) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2. NanoScience and Technology. Springer, Heidelberg, Berlin. ISBN Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Jul 2012 06:08
Buch
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Buch |
| ISBN | Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4 |
| Verlag: | Springer |
|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | Heidelberg, Berlin |
| Sonstige Reihe: | NanoScience and Technology |
| Seitenanzahl: | XVIII, 401 |
| Datum | 2009 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja |
| Dokumenten-ID | 25281 |
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