Giessibl, Franz J. und Quate, Calvin F. (2006) Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy. Physics today 59 (12), S. 44-50.
Im Publikationsserver gibt es leider keinen Volltext zu diesem Eintrag.
Zum Artikel beim Verlag (über DOI)
Zusammenfassung
Over its 20‐year history, the atomic force microscope has gradually evolved into an instrument whose spatial resolution is now fine enough to image subatomic features on the scale of picometers.
Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Artikel | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | Dezember 2006 | ||||||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||||
| Identifikationsnummer: |
| ||||||||
| Klassifikation: |
| ||||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Zum Teil | ||||||||
| Eingebracht am: | 10 Jul 2012 14:00 | ||||||||
| Zuletzt geändert: | 25 Mai 2018 12:42 | ||||||||
| Dokumenten-ID: | 25317 |
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Altmetric
Altmetric