Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy
Artikel
Giessibl, Franz J.
und Quate, Calvin F.
(2006)
Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy.
Physics today 59 (12), S. 44-50.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Physics today | ||||||||
| Verlag | AMER INST PHYSICS | ||||||||
| Ort der Veröffentlichung | MELVILLE | ||||||||
| Band | 59 | ||||||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 12 | ||||||||
| Seitenbereich | S. 44-50 | ||||||||
| Datum | Dezember 2006 | ||||||||
| Veröffentlichungsdatum | 10 Jul 2012 14:00 | ||||||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||||
| Identifikationsnummer |
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| Klassifikation |
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| Stichwörter / Keywords | SILICON (111)-(7X7) SURFACE; RESOLUTION; DEFECTS; | ||||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||||
| Status | Veröffentlicht | ||||||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Zum Teil | ||||||||
| Dokumenten-ID | 25317 |
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