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AFM's path to atomic resolution
Giessibl, Franz J. (2005) AFM's path to atomic resolution. Materials Today 8 (5), S. 32-41.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:06
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.25320
Zusammenfassung
We review progress in improving the spatial resolution of atomic force microscopy (AFM) under vacuum. After an introduction to the basic imaging principle and a conceptual comparison to scanning tunneling microscopy (STM), we outline the main challenges of AFM as well as the solutions that have evolved in the first 20 years of its existence. Some crucial steps along AFM's path toward higher resolution are discussed, followed by an outlook on current and future applications.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Materials Today | ||||
| Verlag: | Elsevier | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Band: | 8 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 5 | ||||
| Seitenbereich: | S. 32-41 | ||||
| Datum | Mai 2005 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| URN der UB Regensburg | urn:nbn:de:bvb:355-epub-253204 | ||||
| Dokumenten-ID | 25320 |
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