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Atomic resolution on Si(111)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork
Giessibl, Franz J. (2000) Atomic resolution on Si(111)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 76 (11), S. 1470-1472.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:18
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.25326
Zusammenfassung
Atomic resolution by noncontact atomic force microscopy with a self-sensing piezoelectric force sensor is presented. The sensor has a stiffness of 1800 N/m and is operated with sub-nanometer amplitudes, allowing atomic resolution with relatively bluntly etched tungsten tips. Sensitivity and noise are discussed.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Applied Physics Letters | ||||
| Verlag: | American Institute of Physics | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Band: | 76 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 11 | ||||
| Seitenbereich: | S. 1470-1472 | ||||
| Datum | 13 März 2000 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| URN der UB Regensburg | urn:nbn:de:bvb:355-epub-253269 | ||||
| Dokumenten-ID | 25326 |
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