URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-253275
Giessibl, Franz J. (1998) High-speed force sensor for force microscopy and profilometry utilizing a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 73 (26), S. 3956-3958.
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Zusammenfassung
Force sensors are key elements of atomic force microscopes and surface profilometers. Sensors with an integrated deflection meter are particularly desirable. Here, quartz tuning forks as used in watches are utilized as force sensors. A novel technique is employed which simplifies the interpretation of the data and increases the imaging speed by at least one order of magnitude compared to previous ...
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| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | 28 Dezember 1998 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Projekte: | BMBF 13N6918 | ||||
| Identifikationsnummer: |
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| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Eingebracht am: | 10 Jul 2012 14:20 | ||||
| Zuletzt geändert: | 08 Mrz 2017 08:33 | ||||
| Dokumenten-ID: | 25327 |
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