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Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-253280
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.25328
Giessibl, Franz J. ; Tortonese, Marco
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:21


Zusammenfassung

Frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM) has made imaging of surfaces in ultrahigh vacuum with atomic resolution possible. Here, we demonstrate a new approach which simplifies the implementation of FM-AFM considerably and enhances force sensitivity by directly exciting the cantilever with the thermal effects involved in the deflection measurement process. This approach reduces the ...

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