Principle of NC-AFM
Giessibl, Franz J. (2002) 2. Principle of NC-AFM. In: Morita, Seizo und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, (eds.) Noncontact atomic force microscopy. Band 1. Nanoscience and technology (2). Springer, Berlin, S. 11-46. ISBN 3-540-43117-9.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:30
Buchkapitel
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Buchkapitel |
| ISBN | 3-540-43117-9 |
| Buchtitel: | Noncontact atomic force microscopy. Band 1 |
|---|---|
| Verlag: | Springer |
| Ort der Veröffentlichung: | Berlin |
| Sonstige Reihe: | Nanoscience and technology |
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 2 |
| Seitenbereich: | S. 11-46 |
| Datum | 2002 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe |
| Dokumenten-ID | 25332 |
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